X線物理学特論

ソフトマターの構造解析に用いられる散乱手法の基礎をX線散乱(SAXS)、中性子散乱(SANS, NSE)、光散乱(SLS, DLS)を中心に解説する。


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掲載者:奥村剛(okumura @ phys.ocha.ac.jp)

最終更新日: 2003/06/18